一種X軸手動位移平臺產(chǎn)品的二次研究及結論分析

添加時間：2020-6-9 9:26:50 作者：浙江金科機械傳動有限公司

金科機械公司研究了一種以計量光柵作為計量標準器的二維X軸手動位移平臺,以實現(xiàn)表面輪廓測量中的x-y方向的精確定位.重點介紹了光柵信號處理的硬件及軟件細分技術,及X軸手動位移臺閉環(huán)控制系統(tǒng)的流程,分析了影響X軸手動位移臺定位精度和速度的因素.系統(tǒng)實現(xiàn)了高速度、高精度和大行程測量的要求.
表面三維形貌檢測是獲取零件表面形貌特征的一種重要手段,也是記錄、比較和復制物體表面形貌特征的基礎,它在機器視覺、自動加工、工業(yè)檢測、產(chǎn)品質量控制、生物和醫(yī)學等領域具有重要意義和廣闊的應用前景.對于粗糙度等參數(shù)的測量,只要求垂直方向的精度,而對于表面輪廓的三維測量則不同,既要求垂直方向的精確測量,還要求水平x-y方向的精確定位,這樣才能真實地測量出表面的基本輪廓.為此,研究運動平面度與精度高的二維X軸手動位移平臺是表面形貌測量與評定的基礎.
目前,開環(huán)和半閉環(huán)的工作臺依據(jù)其較高的加工精度和良好的性能價格比獲得了大量應用,但由于存在開環(huán)環(huán)節(jié),使得手動位移平臺定位精度的進一步提高受到了限制.對于開環(huán)和半閉環(huán)的工作臺系統(tǒng),其定位精度主要靠提高進給絲杠及導軌等構件的精度.但是,絲杠總是存在制造誤差,而且會隨著使用發(fā)生磨損,因此,就需要采用全閉環(huán)控制來解決.為此本文研制了一種新型的精密二維X軸手動位移平臺,利用計量光柵為計量標準器,對X軸手動位移平臺兩個方向的位移進行實時采集測量,既不受其他中間環(huán)節(jié)的影響,還滿足了實際測量中大行程與高精度的要求.